隨著集成電路設(shè)計(jì)技術(shù)的不斷發(fā)展，芯片復(fù)雜程度不斷增加，測(cè)試在整個(gè)產(chǎn)業(yè)環(huán)節(jié)中的作用越來(lái)越重要，成本比例越來(lái)越大。為了幫助各企業(yè)、高校加深對(duì)先進(jìn)芯片測(cè)試技術(shù)的了解，天津市集成電路行業(yè)協(xié)會(huì)、天津市集成電路設(shè)計(jì)中心特邀請(qǐng)香港科技園資深測(cè)試開(kāi)發(fā)經(jīng)理YC. Lee來(lái)津舉辦IC測(cè)試研討會(huì)，會(huì)上YC. Lee就芯片測(cè)試、失效分析、可靠性等方面的內(nèi)容進(jìn)行深入講解和探討，并與參會(huì)嘉賓分享相應(yīng)成功案例。來(lái)自于天津大學(xué)電信學(xué)院、自動(dòng)化學(xué)院、南開(kāi)大學(xué)、Freescale、天津國(guó)芯、瑞發(fā)科等公司的30余名工程師、教師及學(xué)生參加了此次研討會(huì)。